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縱波靈敏度試塊依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)2要求而設(shè)計(jì)，該類試塊主要適用于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)2中縱波檢測(cè)以平底孔為基準(zhǔn)反射體，制作縱波距離-增益-尺寸曲線(DGS)。試塊依據(jù)檢測(cè)范圍及平底孔直徑的不同共設(shè)計(jì)兩個(gè)系列七塊試塊，ZL-I系列為40mm縱波靈敏度試塊，ZL-II系列為≥40mm縱波靈敏度試塊。縱波靈敏度試塊設(shè)計(jì)內(nèi)容見下表。

SD-1/SD-2/SD-3/SD-4/SD-5超聲標(biāo)準(zhǔn)試塊(3mm橫孔靈敏度試塊)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)1及附錄E的要求而設(shè)計(jì)，D試塊的反射體為40mm長(zhǎng)3mm直徑的橫孔(盲孔)，該類試塊主要適用于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)1中橫波及縱波檢測(cè)以φ3mm橫孔為基準(zhǔn)設(shè)定靈敏度和制作距離幅度曲線(DAC)。

3mm橫孔靈敏度試塊依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)1及附錄E的要求而設(shè)計(jì)，D試塊的反射體為40mm長(zhǎng)3mm直徑的橫孔(盲孔)，該類試塊主要適用于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)1中橫波及縱波檢測(cè)以φ3mm橫孔為基準(zhǔn)設(shè)定靈敏度和制作距離幅度曲線(DAC)。

E型交流標(biāo)準(zhǔn)試塊用于交流和脈動(dòng)電流檢測(cè)，與日本B型試塊接近。交流環(huán)形試塊的鋼環(huán)用含碳量不大于0.15％的軟鋼制成，鋼環(huán)用膠木做襯墊，套在銅棒上，鋼環(huán)上鉆有直徑1mm的3個(gè)孔，孔中心距表面分別為1、1.5、2mm。適用于檢驗(yàn)磁粉探傷設(shè)備、磁粉、磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),也用于察試驗(yàn)條件和操作方法是否恰當(dāng)。

E型磁探交流標(biāo)準(zhǔn)試塊(亦稱3孔交流試環(huán))用于交流和脈動(dòng)電流檢測(cè)，與日本B型試塊接近。交流環(huán)形試塊的鋼環(huán)用含碳量不大于0.15％的軟鋼制成，鋼環(huán)用膠木做襯墊，套在銅棒上，鋼環(huán)上鉆有直徑1mm的3個(gè)孔，孔中心距表面分別為1、1.5、2mm。適用于檢驗(yàn)磁粉探傷設(shè)備、磁粉、磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),也用于察試驗(yàn)條件和操作方法是否恰當(dāng)。

B型直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊在美國(guó)稱BETZ環(huán)同效，用AISI01克托斯鉻鎢錳工具鋼制成，洛氏硬度HRC=90～95，環(huán)上鉆有直徑0.07英寸的通孔12個(gè)，中心孔徑為31.8mm。適用于檢驗(yàn)磁粉探傷設(shè)備磁粉和磁懸液的綜合性能（系統(tǒng)靈敏度），用于考察試驗(yàn)條件和操作方法是否恰當(dāng)。但不能確定磁化規(guī)范、磁場(chǎng)方向和有效磁化范圍。

B型直流環(huán)型標(biāo)準(zhǔn)試塊12孔試塊亦稱直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊，直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊在美國(guó)稱BETZ環(huán)同效，用AISI01克托斯鉻鎢錳工具鋼制成，洛氏硬度HRC=90～95，環(huán)上鉆有直徑0.07英寸的通孔12個(gè)，中心孔徑為31.8mm。適用于檢驗(yàn)磁粉探傷設(shè)備磁粉和磁懸液的綜合性能（系統(tǒng)靈敏度），用于考察試驗(yàn)條件和操作方法是否恰當(dāng)。但不能確定磁化規(guī)范、磁場(chǎng)方向和有效磁化范圍。

45N提升力試塊用于驗(yàn)證便攜式磁粉探傷儀提升力大小，測(cè)試提升力的根本目的就在于檢驗(yàn)磁軛導(dǎo)入工件有效磁通的多少，以此來衡量磁軛性能的優(yōu)劣